Meetup #36 : "Relever le challenge du banc de test pour l'IoT"

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Meetup #36 : "Relever le challenge du banc de test pour l'IoT"

10.00

8 septembre 2017 - 12h - 425 rue Jean Rostand à Labège - 4ème étage

"Relever le challenge du banc de test dans l'IoT""

L'inscription est obligatoire et le nombre de place limité.

Avis aux profils techniques ! 

Vous le savez, aujourd'hui, dans toutes les industries et dans tous les domaines, (de l'électronique à l'aérospatiale), les systèmes sont de plus en plus complexes.

En effet, les périphériques ont d’avantage de fonctionnalités, plus de capteurs, plus de sous-systèmes et, par conséquent, ils sont de plus en plus difficiles à tester. Le cas de l’IoT est emblématique à cet égard.

Dès lors, il est désormais essentiel de définir une stratégie de test pour réduire les coûts, maximiser l'efficacité des services de développement et de fabrication des produits pour ses objets connectés.

Comment choisir une solution de "banc de test" ?

C'est à cette question que Matthieu Ricord, ingénieur Test & RF chez @National Instruments apportera des éléments de réponse pour que vous puissiez relever le challenge du test des objets connectés.

Dans ce Meetup, nous aurons notamment l'occasion de revenir sur les avantages et les inconvénients de l’instrumentation sur le marché actuel, sur l'architecture de test d’un point de vue matériel & logiciel, tout ceci illustré par des exemples d’application pour vos produits.

L'inscription est obligatoire et le nombre de place limité.

La présentation durera 30 à 40 minutes et sera suivie d'un cocktail déjeunatoire avec le speaker.

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